石英晶振的測試方法

作者： 揚(yáng)興晶振 日期：2022-02-15 瀏覽量：

  測量一顆晶振的好壞，簡單易做的方法就是直接用萬用表測量晶振電阻和電壓，根據(jù)測量數(shù)值能快速有效的判斷晶振質(zhì)量情況。有時(shí)候想要對晶振更全面分析測試，設(shè)備和流程需要怎么做?

  測試工具清單

  石英晶振測試需準(zhǔn)備的材料、零部件

  1.細(xì)紗手套

  2.待測石英晶體元件

  設(shè)備及工裝

  1.頻率計(jì)(1×10-7)

  2.阻抗計(jì)(f：±5×10-6，R1：±10%)

  3.絕緣電阻測試儀(±20%)

  4.精密電容測試儀(±0.1%±0.003PF)

  5.恒溫箱(±0.1℃)

  6.溫度計(jì)(-50-+50℃,0-100℃)

  7.鑷子(中號)

  8.各種電容夾具

  9.晶體插板

  10.器件測試回流焊(M6/M7/M8)

  測試前準(zhǔn)備工作

  1.將所需電子儀器接通電源,預(yù)熱30分鐘以上。

  2.查看技術(shù)條件,了解測試內(nèi)容。

  操作過程

  絕緣電阻測試

  1.調(diào)整好絕緣電阻測試儀(電壓100V±15V)。

  2.用儀器表筆碰被測石英晶體元件的外殼與引線間(晶片電極引線),測量其之間的絕緣電阻。

  3.測得的絕緣電阻應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則判為不合格。

  并電容測試

  1.調(diào)整好精密電容測試儀。

  2.用儀表筆測量被測石英晶振元件的并電容,測得的電容值應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則判為不合格。

  諧振頻率及諧振電阻的測試

  基準(zhǔn)溫度條件下,石英晶體元件的諧振頻率及諧振電阻的測試。

  1.將被測石英晶體諧振器放在基準(zhǔn)溫度(該產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的溫度)下至少放置1小時(shí)。

  2.調(diào)整好頻率計(jì)阻抗計(jì)。

  3.在阻抗計(jì)上測試被測石英晶體元件的諧振頻率,其值與標(biāo)稱頻率之差應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則為不合格。

  4.測石英晶體元件的諧振電阻,則在阻抗計(jì)上將石英晶體元件的諧振電阻與標(biāo)準(zhǔn)電阻相比較。

  比較方法

  A高頻石英晶體元件

  首先將與產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)相符合的標(biāo)準(zhǔn)電阻插在阻抗計(jì)上,看其柵流幅度。再將石英晶體元件插在阻抗計(jì)上看其柵流幅度(當(dāng)石英晶體元件要求諧振電阻時(shí)石英晶體元件直接插在阻抗計(jì)上,當(dāng)石英晶體元件要求是負(fù)載諧振電阻時(shí),則石英晶體元件插在電容夾具上,然后插在阻抗計(jì)上。)

  如插石英晶體元件的阻抗計(jì)柵流大于插標(biāo)準(zhǔn)電阻時(shí)的阻抗計(jì)柵流,則判為合格,否則判為不合格。

  B低、中頻石英晶體元件

  在阻抗計(jì)上用電位器測出負(fù)載諧振電阻(諧振電阻)值，然后插入晶體插孔，記下此時(shí)電壓表指針位置。

  實(shí)測石英晶體元件，若諧振時(shí)電壓表指針位置超過4中位置時(shí)，則此晶體元件的阻值為合格，否則為不合格。

  低溫條件下石英晶體元件的諧振頻率及諧振電阻的測試。

  1.將石英晶體元件放在低溫恒溫箱內(nèi)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)工作溫度的下限恒溫半小時(shí)以上。

  2.重復(fù)上述相同工步。

  3.注：要求總頻差時(shí)，用低溫時(shí)實(shí)測頻率與標(biāo)準(zhǔn)頻率相減，要求溫度頻差時(shí)，用低溫時(shí)實(shí)測頻率與基準(zhǔn)溫度時(shí)實(shí)測頻率相減，以下高溫測試也如此。

  4.將被測石英晶體元件放在高溫恒溫箱內(nèi)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)工作溫度的上限恒溫半小時(shí)以上。

  5.重復(fù)上述相同工步。

  串并間隔的測試(在常溫條件下測試)

  1.調(diào)整好頻率計(jì)，阻抗計(jì)。

  2.按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)在阻抗上分別測出被測石英晶體元件在兩種(或多種)負(fù)載電容情況下的頻率。

  3.計(jì)算出的頻率差值，其值應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，否則判為不合格。

  注意事項(xiàng)

  測試時(shí)頻率計(jì)數(shù)：高頻石英晶體元件以第三次顯示的數(shù)字為準(zhǔn)，中、低頻石英晶體元件以第二次顯示的數(shù)字為準(zhǔn)。

  為確保晶振在焊接方面不會出現(xiàn)的高溫與加熱速率影響品質(zhì)，我們要求對晶振模擬焊接條件進(jìn)行，由器件測試回流焊(力鋒M系列測試回流焊)焊接高溫測試，通過對晶振進(jìn)行測試可確定出不良的晶振器件

  上錫測試，通過將錫膏熔接其引腳，可抽測晶振引腳上錫是否良好。

  以上是石英晶振測試的全部內(nèi)容,希望對大家有所幫助。保證好的晶振品質(zhì)是揚(yáng)興的最大價(jià)值，“品質(zhì)為本，服務(wù)為根”一直是我們倡導(dǎo)的經(jīng)營理念。如果您遇到晶振測試方面的問題，別擔(dān)心!我們有專業(yè)的技術(shù)人員免費(fèi)提供產(chǎn)品測試服務(wù)。

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